Miernik do pomiaru grubości powłok Leptoskop®
Wykonanie: uniwersalny przyrząd służący do pomiaru grubości warstw z sondą zewnętrzną, precyzyjna technika pomiarowa i możliwość szybkiego rozbudowania urządzenia na miejscu za pomocą kodów aktywizacyjnych (tryb oprogramowania „Statystyka“ i „Pamięć danych“). Duży, podświetlany wyświetlacz graficzny (48 x 24 mm), duży wybór sond. Zakres pomiaru 0–20000 μm (zależny od sondy), 10 wersji językowych, interfejs USB/RS 232 i ochronna ramka gumowa. Okres eksploatacji baterii ok. 100 godzin. Dostawa z sondą Fe do 5000 μm, korpus kontrolny, zestaw folii do kalibrowania, instrukcja obsługi, protokół odbioru/certyfikat kontroli jakości, protokół pomiarowy, literatura fachowa i 2 baterie AA/LR06, 1,5 V, w walizce z tworzywa sztucznego.
Niepewność pomiarowa (po kalibracji):
Grubość warstwy < 100 μm: 1 % wartości pomiarowej ± 1 μm
Grubość warstwy > 100 μm: 1–3 % wartości pomiarowej ± 1 μm
Grubość warstwy > 1000 μm: 3–5 % wartości pomiarowej ± 10 μm
Grubość warstwy > 10000 μm: 5 % wartości pomiarowej ± 100 μm
Zastosowanie: określa grubość warstw niemagnetycznych na podkładach nadających się do magnetyzowania (metale żelazne, wg DIN EN ISO 2178) i grubość powłok nieprzewodzących na podkładach przewodzących metodą prądów wirowych (metale nieżelazne, wg DIN EN ISO 2360).